Courtesy of InterestingEngineering

Teknik Baru Deteksi Cacat Tersembunyi untuk Elektronik Ultra-Tipis Lebih Andal

Mengembangkan teknik baru untuk mendeteksi cacat tersembunyi dalam isolator dua dimensi guna meningkatkan keandalan perangkat elektronik ultra-tipis masa depan.

27 Feb 2026, 10.41 WIB

272 dibaca

Ikhtisar 15 Detik

Teknik baru dapat mengidentifikasi defek tersembunyi yang mempengaruhi keandalan elektronik.
Kesalahan penumpukan dalam boron nitride heksagonal dapat menyebabkan kegagalan material.
Penelitian ini berpotensi meningkatkan kualitas dan keandalan perangkat elektronik ultra-tipis di masa depan.

Houston, Amerika Serikat - Peneliti di Rice University berhasil mengembangkan teknik baru untuk mendeteksi cacat tersembunyi dalam material isolator dua dimensi yang banyak digunakan dalam elektronik ultra-tipis. Cacat ini dapat menjebak muatan listrik dan melemahkan material sehingga perangkat lebih mudah rusak.

Salah satu material yang sering digunakan adalah hexagonal boron nitride atau hBN. Meskipun atom-atomnya tersusun rapi, cacat seperti misalignment panjang dan sempit bisa terjadi selama pemindahan dan penanganan bahan ini.

Cacat ini disebut stacking faults dan sulit dideteksi dengan mikroskop biasa karena terlihat halus dan mulus. Namun, dengan menggunakan spektroskopi katodoluminesensi, peneliti dapat melihat peta cahaya ultraviolet yang memunculkan lokasi cacat tersebut.

Penemuan ini sangat penting karena cacat yang tak terdeteksi selama ini bisa membuat perangkat elektronik menjadi tidak stabil dan mudah rusak pada tegangan rendah. Dengan teknik ini, kualitas dan keandalan komponen elektronik bisa ditingkatkan secara signifikan.

Teknologi ini membuka jalan bagi pengembangan transistor, fotodetektor, dan perangkat kuantum yang lebih dapat diandalkan di masa depan. Penelitian ini membawa harapan untuk membuat elektronik ultra-tipis yang lebih kuat dan tahan lama.

Referensi:
[1] https://www.interestingengineering.com/innovation/ultra-thin-electronics-more-efficient-spot-defects

Analisis Ahli

Hae Yeon Lee

"Pemanfaatan spektroskopi katodoluminesensi membuka cara baru untuk meneliti cacat yang selama ini sulit dideteksi, memberikan peluang besar untuk peningkatan kualitas material 2D."

Analisis Kami

"Penemuan teknik ini adalah kemajuan besar dalam bidang material dua dimensi, karena cacat sekecil apa pun bisa berdampak besar pada performa perangkat yang sangat tipis. Mendeteksi dan mengatasi stacking faults adalah kunci untuk mempercepat integrasi material ini ke produk teknologi yang lebih handal dan efisien."

Prediksi Kami

Dengan kemampuan mendeteksi cacat secara akurat, pengembangan elektronik ultra-tipis akan semakin maju dan perangkat yang dihasilkan akan lebih tahan lama serta memiliki performa yang stabil.